光纖群時延
『壹』 光纖測試的步驟是什麼
對光纖參數的測試方法參照國標中相關的試驗方法進行，下面列舉出一些光纖基本參數的測試方法。光纖的特性參數中，幾何特性參數對光纖的包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法做出相關說明；光學特性參數對模場直徑、單模光纖的截止波長、成纜單模光纖的截止波長的測試方法做出相關說明；傳輸特性參數對光纖的衰減、波長色散的測試方法做出相關說明。2.1、光纖幾何特性參數測試光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法。測量包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法是折射近場法、橫向干涉法和近場光分布法（橫截面幾何尺寸測定）。光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法有三種。●折射近場法折射近場法是多模光纖和單模光纖折射率分布測定的基準試驗方法（RTM），也是多模光纖尺寸參數測定的基準試驗方法和單模光纖尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。折射近場測量是一種直接和精確的測量。它能直接測量光纖（纖芯和包層）橫截面折射率變化，具有高解析度，經定標可給出折射率絕對值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數及多模光纖的最大理論數值孔徑。●橫向干涉法橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。橫向干涉法採用干涉顯微鏡，在垂直於光纖試樣軸線方向上照明試樣，產生干涉條紋，通過視頻檢測和計算機處理獲取折射率剖面。●近場光分布法這種方法是多模光纖幾何尺寸測定的替代試驗方法（ATM）和單模光纖幾何尺寸（除模場直徑）測定的基準試驗方法（RTM）。通過對被測光纖輸出端面上近場光分布進行分析，確定光纖橫截面幾何尺寸參數。可以採用灰度法和近場掃描法。灰度法用視頻系統實現兩維（x-y）近場掃描，近場掃描法只進行一維近場掃描。由於纖芯不圓度的影響，近場掃描法與灰度法得出的纖芯直徑可能有差別。纖芯不圓度可以通過多軸掃描來確定。一般商用儀表折射率分布的測試方法是折射近場法。測試中使用的儀表是光纖幾何參數和折射率分布測量儀。測試步驟如下：①試樣制備時應注意試樣端面清潔、光滑並垂直於光纖軸。②測量包層時，端面傾斜角應小於1°。控制端面損傷，使其對測量精度的影響最小。③注意避免光纖的小彎曲。④將被測光纖剝除被覆層，用專用光纖切割刀切割出平整的端面, 放入光纖樣品盒中，樣品盒中注入折射率稍高於光纖包層折射率的折射率匹配液。⑤將光纖樣品盒垂直放在光纖折射率分布測量儀的光源和光探測器之間，進行x-y方向的掃描測試。⑥通過分析得到光纖折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試數據。2.2、光纖光學特性參數測試(1)單模光纖模場直徑的測試方法模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。單模光纖模場直徑的測試方法有三種。●直接遠場掃描法直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。●遠場可變孔徑法遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。●近場掃描法近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：●准備2m（±0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（±0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。2.3、光纖傳輸特性參數測試(1)衰減的測試方法衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：●截斷法截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。●插入損耗法插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。●後向散射法後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。（2）波長色散的測試方法波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：●相移法相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●脈沖時延法脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●微分相移法微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。3、光纖參數測試中普遍存在的問題以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。
根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中 λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。
『貳』 ITU-T 建議中關於G652光纖的色散標準是多少
G.652的色散系數為17ps/nm/km，不適用於DWDM系統，PMD全稱為：polarization mode dispersion ，偏振模色散。
對於SDH系統：一般是小於40km用652光纖，距離遠於40km，就得用655光纖了！
G.652光纖：（色散未移位光纖）
應用最廣泛的光纖，具有1310nm和1550nm兩個窗口，1310nm處色散小但衰耗大，1550nm處衰耗小但色散大
一般的單模光纖中都同時存在兩個沿正交方向的基本偏振態（Principal State of Polarization, PSP）。理想的光纖呈完美的圓形，材料和應力分布均勻，使得折射率具有圓對稱的良好性質，在理想圓對稱纖芯的單模光纖中，兩個正交偏振模X方向的線偏振模和沿Y方向的線偏振模是完全簡並的，兩者的傳播常數相等，故不存在偏振模色散。
『叄』 光纖通信系統的圖書信息
書名:光纖通信系統
圖書編號:1939810
出版社:科學出版社
定價:25.0
ISBN:703017293
作者:延鳳平,裴麗,寧提綱
出版日期:2006-01-01
版次:1
開本:16開
簡介:
本書系統深入地介紹了光纖通信的基本原理和方法，增加了許多新內容，如EDFA,FRA,OTDM等，全書共分十二章。
目錄:
叢書序
前言
第1章 引言
1.1光通信的歷史回顧
1.1.1光通信器件的發展
1.1.2光纖通信系統的演進
1.2准同步數字體系與同步數字體系
1.2.1復接與分插
1.2.2准同步數字體系
1.2.3同步數字體系
1.2.4lO.92Tbit/s系統
1.3數字光纖通信系統的組成
1.3.1光發射機
1.3.2傳輸光纖
1.3.3光接收機
1.4光纖通信系統的特點
習題
第2章 光纖
2.1Maxwell方程組及邊界條件
2.2介質平板波導中的模式理論
2.2.1模式的一般概念
2.2.2激光在平板波導中的傳輸特性
2.3光纖的結構
2.3.1光纖的物理結構
2.3.2折射率分布
2.4光纖中的模式理論
2.4.1模式的一般描述
2.4.2階躍型折射率分布光纖中的波導方程
2.4.3階躍型折射率分布光纖中的模式
2.4.4線偏振模式理論
2.5單模光纖
2.5.1模場直徑
2.5.2單模光纖中的傳輸模式
2.6新型特種光纖
2.6.1各種稀土摻雜光纖
2.6.2光子晶體光纖
2.6.3其他介質光纖
2.7光纖製造
2.7.1預制棒製作
2.7.2拉絲
2.7.3新型低損耗光纖製造技術
2.8光纖的機械性能
2.9光纜
習題
第3章 光纖的傳輸特性
3.1光纖的損耗
3.1.1損耗產生的機理
3.1.2光纖的損耗譜表述
3.2光纖的色散
3.2.1色散的一般描述
3.2.2群時延
3.2.3模式色散
3.2.4材料色散
3.2.5波導色散
3.2.6偏振模色散
3.2.7單模光纖中脈沖展寬的一般描述
3.2.8光纖色散管理與色散補償
3.3光纖的非線性
3.3.1非線性的產生機理
3.3.2自相位調制
3.3.3交叉相位調制
3.3.4四波混頻
3.3.5受激散射
習題
第4章 光源
4.1激光的特性及基本光學規律
4.1.1激光產生的基本條件
4.1I2激光的基本特徵
4.1.3Snell定律
4.2半導體物理基礎
4.2.1能帶
4.2.2本徵及摻雜材料
4.2.3載流子及PN結
4.3發光二極體
4。3。1發光二極體結構及工作機理
4.3.2伏安特性
4.3.3量子效率
4.3.4發光二極體的調制
4.4激光二極體
4.4.1激光二極體結構及工作機理
4.4.2伏安特性及閾值條件
4.4.3外量子效率
4.4.4諧振頻率選擇
4.4.5激光二極體結構
4.4.6溫度效應
4.5半導體激光器
4.5.1窄線寬半導體激光器
4.5.2面發射激光器
4.6光纖激光器
4.6.1工作機理
4.6.2特點
4.6.3光纖激光器構成及其應用
習題
第5章 功率的注入與耦合
5.1晶元到光纖的功率注入
5.1.1光源輸出模式
5.1.2功率耦合計算
5.2用於改善耦合的透鏡結構
5.2.1球面結構
5.2.2激光二極體到光纖的耦合
5.3光纖到光纖的耦合
5.3.1機械失配
5.3.2光纖相對數值孔徑失配
5.3.3光纖端面處理
5.4光纖接續
5.4.1接續技術
5.4.2單模光纖的接續
5.5光纖連接器
5.5.1連接器分類
5.5.2連接器的回波損耗與插入損耗
習題
第6章 光電探測器
6.1光電二極體的物理特性
6.1.1PD的工作機理
6.1.2PIN光電探測器
6.1.3雪崩光電探測器
6.2光電探測器雜訊
6.2.1雜訊源
6.2.2信噪比
6.3探測器響應時間
6.3.1耗盡層光電流特徵
6.3.2響應時間
6.4雪崩增益的溫度效應及倍增雜訊
6.5光電探測器的比較
6.5.1光電池
6.5.2光電三極體
6.5.3光電二極體與光電三極體的主要差別
6.5.4光電倍增管
6.5.5電荷耦合陣列探測器
習題
第7章 光接收機
7.1光接收機的基本構成
7.1.1光接收機結構
7.1.2誤差源
7.1.3數字信號傳輸系統構成
7.2前置放大器
7.3數字接收機特徵
7.3.1誤差概率
7.3.2量子極限
7.4數字接收機的靈敏度
7.4.1接收機雜訊
7.4.2散粒雜訊
7.4.3靈敏度計算
7.5模擬接收機
習題
第8章 光纖通信系統設計
8.1點對點鏈路的設計
8.1.1功率預算
8.1.2上升時間預算
8.1.3色散預算
8.1.4系統的功率代價
8.2信道編碼及線路碼型
8.2.1非歸零碼
8.2.2歸零碼
8.2.3啁瞅歸零碼
8.2.4載波抑制歸零碼
8.2.5擾碼
8.2.6線路碼型
8.3前向糾錯技術
8.3.1FEC碼的構成
8.3.2編碼增益和凈編碼增益
8.3.3FEC誤碼糾錯能力
8.3.4FEC的應用
8.3.5超強FEC
習題
第9章 光無源器件
9.1光調制器
9.1.1基本概念
9.1.2電介質光調制器
9.1.3EA調制器
9.2光復用解復用器
9.2.1波分復用/解復用器
9.2.2復用器/解復用器的串擾
9.2.3時分復用/解復用器
習題
第lO章 光放大器
10.1基本概念
10.1.1增益系數
10.1.2增益與帶寬
10.1.3放大器雜訊
10.2摻鉺光纖放大器
10.2.1增益譜
10.2.2放大器增益
10.2.3放大器雜訊
10.3調制不穩定性
10.3.1分布放大
10.3.2周期性集總放大
10.3.3雜訊放大
10.4拉曼光纖放大器
10.4.1光纖拉曼放大器的工作原理
10.4.2光纖中的受激拉曼散射
10.4.3光纖拉曼放大器特點
10.4.4光纖拉曼放大器的分類
10.4.5增益特性
10.4.6光纖拉曼放大器雜訊特性
10.4.7寬頻增益平坦拉曼光放大器設計的一般方法
10.4.8多波長泵浦拉曼光放大器的設計
10.5半導體光放大器
10.5.1信號放大特性
10.5.2行波光放大器的雜訊特性
10.5.3信道間的串擾
習題
第11章 光網路
11.1基本光網路
11.1.1網路拓撲結構
11.1.2無源線形匯流排網路的性能
11.1.3星形結構網路的性能
11.2SONET/SDH
11.2.1傳輸格式及速率
11.2.2光介面
11.2.3SONET/SDH環
11.2.4SONET/SDH網路
11.3波長路由網路
11.3.1光上下話路復用
11.3.2光交叉連接
11.3.3波長變換器的性能評價
11.4wDM+EDFA系統的性能
11.4.1鏈路帶寬
11.4.2用於特殊誤碼率的光功率要求
11.4.3通道間串擾
11.5光碼分多址OCDMA技術
11.6全光包交換技術
11.6.1光包交換的網路結構
11.6.2OPS的節點結構
11.6.3OPS在城域網中的應用
11.7光突發交換
11.7.1OBS網路結構
11.7.2OBS協議
11.7.3OBS的特點
習題
第12章 光纖測量
12.1衰減測量
12.1.1截斷技術
12.1.2插入損耗方法
12.1.3背向散射法
12.2色散測量
12.2.1模間色散
12.2.2時域模間色散測量
12.2.3頻域模間色散測量
12.2.4色度色散
12.2.5偏振模色散
12.3OTDR的應用
12.3.1衰減測量
12.3.2光纖故障位置判定
12.4眼圖分析
12.5光譜分析儀的應用
12.5.1光源的性能評價
12.5.2EDFA增益及雜訊圖測試
習題
參考文獻
『肆』 光纖光柵里的群時延公式在MATLAB中怎樣表達啊
是不是有在變數沒定義
『伍』 光纖的光學特性包含哪幾項
光纖光學特性參數測試
(1)單模光纖模場直徑的測試方法
模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。
模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。
單模光纖模場直徑的測試方法有三種。
●直接遠場掃描法
直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。
●遠場可變孔徑法
遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。
●近場掃描法
近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。
一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。
測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：
●准備2m（0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。
●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。
●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。
通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。
（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法
測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。
當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。
一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。
測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：
①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。
②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。
③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。
④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。
⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。
⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。
光纖傳輸特性參數測試
(1)衰減的測試方法
衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：
●截斷法
截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。
●插入損耗法
插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。
●後向散射法
後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。
一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。
截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：
①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。
②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。
③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。
④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。
將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。
後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：
①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。
②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。
③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。
④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。
⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。
實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。
波長色散的測試方法
波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：
●相移法
相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。
●脈沖時延法
脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。
●微分相移法
微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。
一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。
測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：
①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。
②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。
③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。
④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。
⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。
光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。
光纖參數測試中普遍存在的問題
以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。
根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。
在對國內光纖光纜廠商光纜產品的委託測試中，在四種規格的光纜產品中以192芯（其中B1類光纖178芯，B4類光纖14芯）為抽樣基數，隨機抽取B1類光纖樣品12根，B4類光纖樣品4根，測試單模光纖的截止波長參數。測試結果中單模光纖的截止波長普遍存在超標現象。
在對國內光纖光纜廠商光纜產品的委託測試中，在四種規格的光纜產品中以192芯（其中B1類光纖178芯，B4類光纖14芯）為抽樣基數，隨機抽取B1類光纖樣品12根，B4類光纖樣品4根，測試單模光纖的截止波長參數。測試結果中單模光纖的截止波長普遍存在超標現象。
『陸』 如何用時域特性法來描述光纖的色散效應
對光纖參數的測試方法參照國標中相關的試驗方法進行，下面列舉出一些光纖基本參數的測試方法。光纖的特性參數中，幾何特性參數對光纖的包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法做出相關說明；光學特性參數對模場直徑、單模光纖的截止波長、成纜單模光纖的截止波長的測試方法做出相關說明；傳輸特性參數對光纖的衰減、波長色散的測試方法做出相關說明。2.1、光纖幾何特性參數測試光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法。測量包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法是折射近場法、橫向干涉法和近場光分布法（橫截面幾何尺寸測定）。光纖的折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試方法有三種。●折射近場法折射近場法是多模光纖和單模光纖折射率分布測定的基準試驗方法（RTM），也是多模光纖尺寸參數測定的基準試驗方法和單模光纖尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。折射近場測量是一種直接和精確的測量。它能直接測量光纖（纖芯和包層）橫截面折射率變化，具有高解析度，經定標可給出折射率絕對值。由折射率剖面圖可確定多模光纖和單模光纖的幾何參數及多模光纖的最大理論數值孔徑。●橫向干涉法橫向干涉法是折射率剖面和尺寸參數測定的替代試驗方法（ATM）。橫向干涉法採用干涉顯微鏡，在垂直於光纖試樣軸線方向上照明試樣，產生干涉條紋，通過視頻檢測和計算機處理獲取折射率剖面。●近場光分布法這種方法是多模光纖幾何尺寸測定的替代試驗方法（ATM）和單模光纖幾何尺寸（除模場直徑）測定的基準試驗方法（RTM）。通過對被測光纖輸出端面上近場光分布進行分析，確定光纖橫截面幾何尺寸參數。可以採用灰度法和近場掃描法。灰度法用視頻系統實現兩維（x-y）近場掃描，近場掃描法只進行一維近場掃描。由於纖芯不圓度的影響，近場掃描法與灰度法得出的纖芯直徑可能有差別。纖芯不圓度可以通過多軸掃描來確定。一般商用儀表折射率分布的測試方法是折射近場法。測試中使用的儀表是光纖幾何參數和折射率分布測量儀。測試步驟如下：①試樣制備時應注意試樣端面清潔、光滑並垂直於光纖軸。②測量包層時，端面傾斜角應小於1°。控制端面損傷，使其對測量精度的影響最小。③注意避免光纖的小彎曲。④將被測光纖剝除被覆層，用專用光纖切割刀切割出平整的端面, 放入光纖樣品盒中，樣品盒中注入折射率稍高於光纖包層折射率的折射率匹配液。⑤將光纖樣品盒垂直放在光纖折射率分布測量儀的光源和光探測器之間，進行x-y方向的掃描測試。⑥通過分析得到光纖折射率分布、包層直徑、包層不圓度、芯/包層同心度誤差的測試數據。2.2、光纖光學特性參數測試(1)單模光纖模場直徑的測試方法模場直徑是單模光纖基模（LP01）模場強度空間分布的一種度量，它取決於該光纖的特性。模場直徑（MFD）可在遠場用遠場光強分布Pm(θ)、互補孔徑功率傳輸函數α(θ)和在近場用近場光強分布f2(r)來測定。模場直徑定義與測量方法嚴格相關。單模光纖模場直徑的測試方法有三種。●直接遠場掃描法直接遠場掃描法是測量單模光纖模場直徑的基準試驗方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）遠場定義，通過測量光纖遠場輻射圖計算出單模光纖的模場直徑。●遠場可變孔徑法遠場可變孔徑法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光功率穿過不同尺寸孔徑的兩維遠場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。●近場掃描法近場掃描法是測量單模光纖模場直徑的替代試驗方法（ATM）。它通過測量光纖徑向近場圖計算出單模光纖的模場直徑，計算模場直徑的數學基礎是柏特曼遠場定義。一般商用儀表模場直徑測試方法是遠場變孔徑法(VAFF)。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：●准備2m（±0.2m）的光纖樣品，兩端剝除被覆層，放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。●將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端，檢查光接收端的聚焦狀態，如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。●在光源的輸出端保持測試光纖的注入條件不變，打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，進行模場直徑的測試。通過分析得到光纖模場直徑的測試數據。（2）單模光纖截止波長和成纜單模光纖截止波長的測試方法測量單模光纖的截止波長和成纜單模光纖的截止波長的測試方法是傳輸功率法。當光纖中的模大體上被均勻激勵情況下，包括注入較高次模在內的總光功率與基模光功率之比隨波長減小到規定值（0.1dB）時所對應的較大波長就是截止波長。傳輸功率法根據截止波長的定義，在一定條件下，把通過被測光纖（或光纜）的傳輸功率與參考傳輸功率隨波長的變化相比較，得出光纖（或光纜）的截止波長值。一般商用儀表模場直徑測試方法是傳輸功率法。測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①在樣品制備時，單模光纖的截止波長的測試使用2m（±0.2m）的光纖樣品，成纜單模光纖的截止波長的測試使用22m的已成纜單模光纖。②將測試光纖的兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。③將被測光纖連接入測量儀的輸入和輸出端, 檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在其屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。④先在測試光纖不打小環的情況下，測試參考傳輸功率。⑤再將測試光纖在注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。⑥將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖（或光纜）的截止波長值。2.3、光纖傳輸特性參數測試(1)衰減的測試方法衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決於光纖的性質和長度，並受測量條件的影響。衰減的主要測試方法如下：●截斷法截斷法是測量光纖衰減特性的基準試驗方法（RTM），在不改變注入條件時測出通過光纖兩橫截面的光功率，從而直接得到光纖衰減。●插入損耗法插入損耗法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），原理上類似於截斷法，但光纖注入端的光功率是注入系統輸出端的出射光功率。測得的光纖衰減中包含了試驗裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對測量結果加以修正。●後向散射法後向散射法是測量光纖衰減特性的替代試驗方法（ATM），它測量從光纖中不同點後向散射至該光纖始端的後向散射光功率。這是一種單端測量方法。一般商用儀表衰減的測試方法是截斷法和後向散射法。截斷法測試中使用的儀表是光纖模場直徑和衰減譜測量儀。測試步驟如下：①准備不短於1km或更長一些（一般一個光纖盤長：25km）的光纖樣品，兩端剝除被覆層, 放在光纖夾具中，用專用光纖切割刀切割出平整的端面。②將測試光纖盤的外端光纖通過專用夾具連接儀表的發射端，將測試光纖盤的內端光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰, 則需要進行位置和焦距的調整。③在光纖注入端打一個半徑30mm的小環，濾除LP11模的影響，測試此時的傳輸功率。④保持光源的注入狀態不變（在光纖注入端打一個半徑30mm的小環），將測試光纖樣品截斷為2m的試樣，光纖通過專用夾具連接儀表的接收端，檢查光接收端的聚焦狀態, 如果曲線不在屏幕的正中央或光纖端面不夠清晰，則需要進行位置和焦距的調整。測試此時的傳輸功率。將兩條傳輸功率測試曲線相比較，通過數據分析處理，得到光纖在1310nm和1550nm波段的衰減譜特性。後向散射法測試中使用的儀表是光時域反射計。測試步驟如下：①將測試光纖盤的外端通過熔接光纖連接器或裸纖適配器，接入光時域反射計進行測試。②測試中光時域反射計使用最小二乘法（LSA）計算光纖的衰減，此方法可忽略光纖中可能的熔接或接頭損耗對光纖鏈路測試造成的影響。③如需分段測試光纖鏈路的衰減可使用兩點法進行測試。④光纖衰減測試中，應選擇光纖測試曲線中的線性區域，避開測試曲線近端的飽和區域和末端的反射區域，測試兩點間的光纖衰減（dB/km）。⑤更改光時域反射計的測試波長，分別對1310nm和1550nm波長處的光纖衰減特性進行測試分析。實際測試中，可以通過截斷法和後向散射法兩種測試方法驗證光纖衰減的測試數據。對於帶有光纖連接器的測試光纖樣品，為了不破壞已安裝的光纖連接器，則只能使用後向散射法進行單端非破壞性測試。（2）波長色散的測試方法波長色散是由組成光源譜的不同波長的光波以不同群速度傳輸引起的光纖中每單位光源譜寬的光脈沖展寬，用ps/nm表示。它取決於該光纖的特性和長度。波長色散的主要測試方法如下：●相移法相移法是測量光纖波長色散的基準試驗方法（RTM）。它在頻域中通過檢測、記錄和處理不同波長正弦調制信號的相移來測量不同波長信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●脈沖時延法脈沖時延法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在時域中通過直接檢測、記錄和處理不同波長脈沖信號的群時延，從而推導出光纖波長色散。●微分相移法微分相移法是測量光纖波長色散的替代試驗方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波長范圍內由兩個相近波長間的微分群時延來測量特定波長上的波長色散系數。一般商用儀表波長色散的測試方法是相移法。測試中使用的設備是色散測量儀。測試步驟如下：①測試光纖樣品應不短於1km。光纖兩端做好光纖連接器。②在色散測試時應先用兩根標准光纖跳線分別連接色散測量儀的輸入端和輸出端，通過法蘭盤連接兩根光纖跳線的另一端，將色散測量儀自環，測試此時的參考值。③再將測試光纖通過法蘭盤接入光纖環路。④根據測試光纖樣品，設定光纖類型；數據擬合方式；光纖測試中的群折射率；測試光纖長度；；測試波長范圍；波長間隔等。⑤測試光纖的零色散波長、零色散斜率和色散系數等。通過對測試數據的分析處理得到光纖的色散特性。光纖參數測試中的不確定度評定方法：光纖參數測試中的不確定度評定一般參考下面提到的方法進行。主要考慮測量儀器引入的不確定度和測量重復性兩方面因素。3、光纖參數測試中普遍存在的問題以單模光纖B1.1類（即非色散位移單模光纖）、B1.3類（即波長段擴展的非色散位移單模光纖）和B4類（即非零色散位移單模光纖）為例說明光纖參數測試中普遍存在的問題。光纖參數測試中普遍存在的問題是單模光纖的截止波長指標超標的問題。
根據國內光纖光纜標准，截止波長可分為光纜截止波長λCC、光纖截止波長λC和跳線光纜截止波長λCj，光纖光纜的截止波長指標應符合表二中的相應規定。光纜使用長度不小於22m時應符合表二中λCC規定，使用長度小於22m但不小於2m時應符合表二中λCj規定，使用長度小於2m時應符合表二中 λC規定，以防止傳輸時可能產生的模式雜訊。
『柒』 載噪比在光通訊中的意義
載噪比的定義載波功率和雜訊功率之比: =20lg
兩者都是越大約好，越大效果就越好！！！
對光傳輸系統的探討
用光波傳輸電視信號和數據信息是20世紀末發展起來的一門新的科學技術，它的出現使世界信息產業得到了飛速發展，現在光纖傳輸技術正以超出人們想像的速度發展，其光傳輸速度比10年前提高了100倍，在今後的發展中估計還要提高100倍左右。隨著光纖傳輸技術的不斷發展，在光域上可進行復用、解復用、選路、交換，網路可利用光纖的巨大帶寬資源，增加網路的容量，實現多種業務的「透明」傳輸。
光傳輸系統主要由光發射機、光接收機、光分路器和光纖電纜及其它器件組成。
一 光纖傳輸光信號的基理
光傳輸是在發送方和接收方之間以光信號形態進行傳輸的技術。光傳輸電視信號的工作過程是在光發射機、光纖和光接收機三者之間進行的; 在中心機房的光發射機把輸入的RF電視信號變換成光信號，它由電/光變換器(Electric-Optical Transcer，E/O)完成，變換成的光信號由光纖傳輸導向接收設備(光接收機)接收，光接收機把從光纖中獲取的光信號變換還原成電信號。因此光傳輸信號的基理就是電/光和光/電變換的全過程，也稱為光鏈路。
目前光傳輸方式採用光強度調制。如採用激光器的光發器件發出相位一致的所謂相干光，因此採取了使發光強度整體發生變化的調制方式，它利用了輸出光功率對應於電/光變換器輸入信號電流的變化而線性變化的特性。
在光/電變換器(Optical-Electric Transcer，O/E)中，輸出正比於輸入光信號強度的電流，光/電變換器的輸出電流波形因而與電/光變換器輸入電流波形相似，達到了信號傳輸的目的。
那麼，光纖又是如何導向光信號的呢？目前有線電視系統使用的光纖是圓柱體的光纖，它由光纖圓柱體和包層組成，是石英玻璃材料。包層起著把光嚴密地封閉在光纖內的作用，保護纖芯，增強光纖本身的強度。而纖芯的作用是傳輸光信號。纖芯和包層雖然都是石英玻璃材料生產而成，但在生產時對兩者的摻雜成份有區別，因而導致了所產生的折射率大小不同(纖芯為1.463~ 1.467，包層為1.45~1.46)，當然也與所採用的材料不同有關。當激光器發射的光源進入纖芯後，光入射到包層界面時，只要入射角大於臨界角，就會在纖芯內產生全反射，光不會漏射到包層中，這樣聚入到纖芯內的光信號就會不間斷地傳播下去，直到導向光接收機為止。這個過程就是光信號在光纖中傳輸的基理。
二 光傳輸中產生的失真
光在光纖中傳輸時，也會產生一些失真，產生失真的原因有以下幾點:
(1)在光纖傳輸系統中，由於半導體激光器的電/光轉換特性的非線性，使輸出的光信號與激勵電流的變化不一致導致了失真，它稱為調制失真。調制指數M值不允許太大，選擇高性能、預失真處理技術強的光發射機很有必要，預失真處理技術是利用人為的設計產生預失真改善調制線性，達到消除和減輕光纖傳輸系統中CSO與CTB的目的。
(2)在光傳輸系統中，由於驅動RF放大器和接收RF放大器產生失真的機會很小，線性PIN光電二極體因信號電平不太高，產生的微小失真可不計，而它的主要原因來自於半導體激光器調制特性的失真和光纖的色散。
(3)激光器在光強度調制時，光的波長會發生變化，出現附加頻率調制，使信號頻率展寬，出現啁啾效應 ，主要表現為CSO失真。
(4)光纖的色散特性會使不同波長的群時延發生差異，形成到達終端的時間會先後不一致所引起的失真，主要是CSO失真。
在光纖傳輸系統中產生的失真主要是CSO失真，而CTB失真的程度遠比CSO失真小，為了確保系統的傳輸質量，使系統載噪比和失真性能處於合理的范圍之內，採取的措施一般利用CNR指標來平衡CSO、CTB指標。如果增加或者減小CNR值1dB，那麼CSO就會惡化或者改善1dB，CTB指標就會惡化或者改善2dB。
三 光發射機的工作原理
光發射機中最重要的光器件就是半導體激光器，實際上它是一隻激光二極體(Laser Diode，LD)，當然也有不使用激光二極體，而是使用半導體發光二級管(Light Emitting Diode，LED)的。
1310nm光發射機一般採用直接調制方式(殘留邊帶—幅度調制，VSB-AM方式)，它的功能是把電信號轉換成光信號，它通過外部電路改變注入激光器的電源來實現。它設置的偏置電路能為激光器提供最佳偏置工作電源，偏置電流不同，激光器就會有不同的功率輸出，為確保穩定的輸出光功率，應設計光功率和激光器溫度的自動控制電路，如採用微電腦達到自動控制光發射機的最佳工作狀態。
激光器正在廣泛地用作光振盪器(即發光器件)，它是依靠本身所成的激光器媒質材料的能量狀態與光的相互作用工作。
為使激光器工作，必須有一定大小的電流，這一電流的大小與光強度之間有一定關系，當增加電流時，光的強度急劇增加，這一點說明激光器已開始工作，這個使激光器開始工作的電流叫門限電流，它越小越好，因為這已經能使激光器開始工作，如再繼續增加門限電流，就會形成輸出的飽和區，飽和區的電流達到一定值後，就會使傳輸信號的質量下降甚至損壞激光二極體，對於光纖傳輸所需功率來講，在線性區域有數兆瓦的輸出功率滿足遠距離傳輸信號和信息的要求。光的傳輸質量除光強的量以外，還與光譜和雜訊等問題有一定關系。
多波長的光譜對高質量的模擬信號的傳輸是不太適合的，即使以單模方式來工作，它的發光譜線也有寬度，寬度越窄，光波變得越純，越會成為時間相干，即相乾性好的光波。相乾性好的光波不需用透鏡和其它器件將它會聚成小的光點，也越適合光纖的入射。
四 光接收機的工作原理
光接收機的主要部件是光檢測器，也就是高靈敏度的光電二極體(PIN)，光電二極體利用半導體的光電效應完成對光信號的檢測工作，使光信號還原成RF電視信號，然後對RF信號進行放大，以及AGC電平控制等處理後輸出合格的RF信號供網路分配。
光接收機的主要技術是C/N、C/CTB、C/CSO。這三大技術指標又都是由光電轉換模塊的性能所確定，在相同光功率輸入的情況下，轉換輸出的RF電平就有大小之分，當光電模塊轉換效率高時，它的輸出電平高，所帶來的C/N值指標也好，反之，C/N值指標變差。而C/CSO、C/CTB兩項技術指標由光電模塊的線性度而定，高質量的光電模塊在C/CSO、C/CTB指標相同的情況下，允許更寬的接收功率范圍。
五 光器件的發展前景
隨著寬頻網的光纖傳輸技術不斷更新，多功能業務的不斷完善，對光器件和光纖的傳輸特性的要求越來越高，光纖取代銅線的時代終究要來臨，隨著信息時代腳步聲的來臨，光傳輸技術的發展前景非常廣闊。
『捌』 光纖光柵的主要分類
隨著光纖光柵應用范圍的日益擴大，光纖光柵的種類也日趨增多。根據折射率沿光柵軸向分布的形式，可將紫外寫入的光纖光柵分為均勻光纖光柵和非均勻光纖光柵。其中均勻光纖光柵是指纖芯折射率變化幅度和折射率變化的周期(也稱光纖光柵的周期)均沿光纖軸向保持不變的光纖光柵，如均勻光纖Bragg光柵(折射率變化的周期一般為0.1um量級)和均勻長周期光纖光柵(折射率變化的周期一般為100um量級);非均勻光纖光柵是指纖芯折射率變化幅度或折射率變化的周期沿光纖軸向變化的光纖光柵，如chirped光纖光柵(其周期一般與光纖Bragg光柵周期處同一量級)、切趾光纖光柵、相移光纖光柵和取樣光纖光柵等。
均勻光纖光柵
均勻光纖Bragg光柵折射率變化的周期一般為0.1um量級。它可將入射光中某一確定波長的光反射，反射帶寬窄。在感測器領域，均勻光纖Bragg光柵可用於製作溫度感測器、應變感測器等感測器;在光通信領域，均勻光纖Bragg光柵可用於製作帶通濾波器、分插復用器和波分復用器的解復用器等器件。
均勻長周期光纖光柵
均勻長周期光纖光柵折射率變化的周期一般為100um量級，它能將一定波長范圍內入射光前向傳播芯內導模耦合到包層模並損耗掉。在感測器領域，長周期光纖光柵可用於製作微彎感測器、折射率感測器等感測器;在光通信領域，長周期光纖光柵可用於製作摻餌光纖放大器、增益平坦器、模式轉換器、帶阻濾波器等器件。
切趾光纖光柵
對於一定長度的均勻光纖Bragg光柵，其反射譜中主峰的兩側伴隨有一系列的側峰，一般稱這些側峰為光柵的邊模。如將光柵應用於一些對邊模的抑制比要求較高的器件如密集波分復用器，這些側峰的存在是一個不良的因素，它嚴重影響器件的信道隔離度。為減小光柵邊模，人們提出了一種行之有效的辦法一切趾所謂切趾，就是用一些特定的函數對光纖光柵的折射率調制幅度進行調制。經切趾後的光纖光柵稱為切趾光纖光柵，它反射譜中的邊模明顯降低。
相移光纖光柵
相移光纖光柵是由多段m（M>2)具有不同長度的均勻光纖Bragg光柵以及連接這些光柵的M-1個連接區域組成.相移光纖光柵因為在其反射譜中存在一透射窗口可直接用作帶通濾波器。
取樣光纖光柵
取樣光纖光柵也稱超結構光纖光柵，它是由多段具有相同參數的光纖光柵以相同的間距級聯成。除了用作梳狀濾波器之外，取樣光纖光柵還可用wdm系統中的分插復用器件。與其他分插復用器件不同的是，取樣光纖光柵構成的分插器件
可同時分或插多路信道間隔相同的信號。
chirped光纖光柵
所謂chirped光纖光柵，是指光纖的纖芯折射率變化幅度或折射率變化的周期沿光纖軸向逐漸變大(小)形成的一種光纖光柵。在chirped光纖光柵軸向不同位置可反射不同波長的入射光。所以chirped光纖光柵的特點是反射譜寬，在反射帶寬內具有漸變的群時延，群時延曲線的斜率即光纖光柵的色散值。所以，可以利用chirped光纖光柵作為色散補償器。
『玖』 DGD是什麼
DGD即兩個偏振模之間的差分群時延。光纖中的DGD定義為特定波長下，快、慢偏振主態（PSP）之間的相位延遲，單位為ps。
『拾』 誰能給我解釋一下奔騰 M系列 中的DOTHON指什麼，怎麼解釋PMD，謝謝了，我急用
一種核心的名字，名字而已，具體來說：
Pentium M(Dothon) 這是Intel研發的新核心的Pentium M處理器，和Banias的主版要區別在於CPU內置的二級緩存（權L2 Cache），Banias的緩存為1M，而Dothon的緩存達到了2M，由此可見，Dothon的性能要高於Banias，而在提升性能與節省功耗的方面Dothon也要優於Banias。
Pentium M(Dothon) 533Mhz 與 Intel 915晶元組、Intel無線網卡模塊，組成了第二代迅馳，也就是SONOMA平台。