光纤群时延
『壹』 光纤测试的步骤是什么
对光纤参数的测试方法参照国标中相关的试验方法进行，下面列举出一些光纤基本参数的测试方法。光纤的特性参数中，几何特性参数对光纤的包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法做出相关说明；光学特性参数对模场直径、单模光纤的截止波长、成缆单模光纤的截止波长的测试方法做出相关说明；传输特性参数对光纤的衰减、波长色散的测试方法做出相关说明。2.1、光纤几何特性参数测试光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法。测量包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法是折射近场法、横向干涉法和近场光分布法（横截面几何尺寸测定）。光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法有三种。●折射近场法折射近场法是多模光纤和单模光纤折射率分布测定的基准试验方法（RTM），也是多模光纤尺寸参数测定的基准试验方法和单模光纤尺寸参数测定的替代试验方法（ATM）。折射近场测量是一种直接和精确的测量。它能直接测量光纤（纤芯和包层）横截面折射率变化，具有高分辨率，经定标可给出折射率绝对值。由折射率剖面图可确定多模光纤和单模光纤的几何参数及多模光纤的最大理论数值孔径。●横向干涉法横向干涉法是折射率剖面和尺寸参数测定的替代试验方法（ATM）。横向干涉法采用干涉显微镜，在垂直于光纤试样轴线方向上照明试样，产生干涉条纹，通过视频检测和计算机处理获取折射率剖面。●近场光分布法这种方法是多模光纤几何尺寸测定的替代试验方法（ATM）和单模光纤几何尺寸（除模场直径）测定的基准试验方法（RTM）。通过对被测光纤输出端面上近场光分布进行分析，确定光纤横截面几何尺寸参数。可以采用灰度法和近场扫描法。灰度法用视频系统实现两维（x-y）近场扫描，近场扫描法只进行一维近场扫描。由于纤芯不圆度的影响，近场扫描法与灰度法得出的纤芯直径可能有差别。纤芯不圆度可以通过多轴扫描来确定。一般商用仪表折射率分布的测试方法是折射近场法。测试中使用的仪表是光纤几何参数和折射率分布测量仪。测试步骤如下：①试样制备时应注意试样端面清洁、光滑并垂直于光纤轴。②测量包层时，端面倾斜角应小于1°。控制端面损伤，使其对测量精度的影响最小。③注意避免光纤的小弯曲。④将被测光纤剥除被覆层，用专用光纤切割刀切割出平整的端面, 放入光纤样品盒中，样品盒中注入折射率稍高于光纤包层折射率的折射率匹配液。⑤将光纤样品盒垂直放在光纤折射率分布测量仪的光源和光探测器之间，进行x-y方向的扫描测试。⑥通过分析得到光纤折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试数据。2.2、光纤光学特性参数测试(1)单模光纤模场直径的测试方法模场直径是单模光纤基模（LP01）模场强度空间分布的一种度量，它取决于该光纤的特性。模场直径（MFD）可在远场用远场光强分布Pm(θ)、互补孔径功率传输函数α(θ)和在近场用近场光强分布f2(r)来测定。模场直径定义与测量方法严格相关。单模光纤模场直径的测试方法有三种。●直接远场扫描法直接远场扫描法是测量单模光纤模场直径的基准试验方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）远场定义，通过测量光纤远场辐射图计算出单模光纤的模场直径。●远场可变孔径法远场可变孔径法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光功率穿过不同尺寸孔径的两维远场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。●近场扫描法近场扫描法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光纤径向近场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。一般商用仪表模场直径测试方法是远场变孔径法(VAFF)。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：●准备2m（±0.2m）的光纤样品，两端剥除被覆层，放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。●将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端，检查光接收端的聚焦状态，如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。●在光源的输出端保持测试光纤的注入条件不变，打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，进行模场直径的测试。通过分析得到光纤模场直径的测试数据。（2）单模光纤截止波长和成缆单模光纤截止波长的测试方法测量单模光纤的截止波长和成缆单模光纤的截止波长的测试方法是传输功率法。当光纤中的模大体上被均匀激励情况下，包括注入较高次模在内的总光功率与基模光功率之比随波长减小到规定值（0.1dB）时所对应的较大波长就是截止波长。传输功率法根据截止波长的定义，在一定条件下，把通过被测光纤（或光缆）的传输功率与参考传输功率随波长的变化相比较，得出光纤（或光缆）的截止波长值。一般商用仪表模场直径测试方法是传输功率法。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：①在样品制备时，单模光纤的截止波长的测试使用2m（±0.2m）的光纤样品，成缆单模光纤的截止波长的测试使用22m的已成缆单模光纤。②将测试光纤的两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。③将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端, 检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在其屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。④先在测试光纤不打小环的情况下，测试参考传输功率。⑤再将测试光纤在注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。⑥将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤（或光缆）的截止波长值。2.3、光纤传输特性参数测试(1)衰减的测试方法衰减是光纤中光功率减少量的一种度量，它取决于光纤的性质和长度，并受测量条件的影响。衰减的主要测试方法如下：●截断法截断法是测量光纤衰减特性的基准试验方法（RTM），在不改变注入条件时测出通过光纤两横截面的光功率，从而直接得到光纤衰减。●插入损耗法插入损耗法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），原理上类似于截断法，但光纤注入端的光功率是注入系统输出端的出射光功率。测得的光纤衰减中包含了试验装置的衰减，必须分别用附加连接器损耗和参考光纤段损耗对测量结果加以修正。●后向散射法后向散射法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），它测量从光纤中不同点后向散射至该光纤始端的后向散射光功率。这是一种单端测量方法。一般商用仪表衰减的测试方法是截断法和后向散射法。截断法测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：①准备不短于1km或更长一些（一般一个光纤盘长：25km）的光纤样品，两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。②将测试光纤盘的外端光纤通过专用夹具连接仪表的发射端，将测试光纤盘的内端光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。③在光纤注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。④保持光源的注入状态不变（在光纤注入端打一个半径30mm的小环），将测试光纤样品截断为2m的试样，光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。测试此时的传输功率。将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤在1310nm和1550nm波段的衰减谱特性。后向散射法测试中使用的仪表是光时域反射计。测试步骤如下：①将测试光纤盘的外端通过熔接光纤连接器或裸纤适配器，接入光时域反射计进行测试。②测试中光时域反射计使用最小二乘法（LSA）计算光纤的衰减，此方法可忽略光纤中可能的熔接或接头损耗对光纤链路测试造成的影响。③如需分段测试光纤链路的衰减可使用两点法进行测试。④光纤衰减测试中，应选择光纤测试曲线中的线性区域，避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域，测试两点间的光纤衰减（dB/km）。⑤更改光时域反射计的测试波长，分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析。实际测试中，可以通过截断法和后向散射法两种测试方法验证光纤衰减的测试数据。对于带有光纤连接器的测试光纤样品，为了不破坏已安装的光纤连接器，则只能使用后向散射法进行单端非破坏性测试。（2）波长色散的测试方法波长色散是由组成光源谱的不同波长的光波以不同群速度传输引起的光纤中每单位光源谱宽的光脉冲展宽，用ps/nm表示。它取决于该光纤的特性和长度。波长色散的主要测试方法如下：●相移法相移法是测量光纤波长色散的基准试验方法（RTM）。它在频域中通过检测、记录和处理不同波长正弦调制信号的相移来测量不同波长信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。●脉冲时延法脉冲时延法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在时域中通过直接检测、记录和处理不同波长脉冲信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。●微分相移法微分相移法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波长范围内由两个相近波长间的微分群时延来测量特定波长上的波长色散系数。一般商用仪表波长色散的测试方法是相移法。测试中使用的设备是色散测量仪。测试步骤如下：①测试光纤样品应不短于1km。光纤两端做好光纤连接器。②在色散测试时应先用两根标准光纤跳线分别连接色散测量仪的输入端和输出端，通过法兰盘连接两根光纤跳线的另一端，将色散测量仪自环，测试此时的参考值。③再将测试光纤通过法兰盘接入光纤环路。④根据测试光纤样品，设定光纤类型；数据拟合方式；光纤测试中的群折射率；测试光纤长度；；测试波长范围；波长间隔等。⑤测试光纤的零色散波长、零色散斜率和色散系数等。通过对测试数据的分析处理得到光纤的色散特性。光纤参数测试中的不确定度评定方法：光纤参数测试中的不确定度评定一般参考下面提到的方法进行。主要考虑测量仪器引入的不确定度和测量重复性两方面因素。3、光纤参数测试中普遍存在的问题以单模光纤B1.1类（即非色散位移单模光纤）、B1.3类（即波长段扩展的非色散位移单模光纤）和B4类（即非零色散位移单模光纤）为例说明光纤参数测试中普遍存在的问题。光纤参数测试中普遍存在的问题是单模光纤的截止波长指标超标的问题。
根据国内光纤光缆标准，截止波长可分为光缆截止波长λCC、光纤截止波长λC和跳线光缆截止波长λCj，光纤光缆的截止波长指标应符合表二中的相应规定。光缆使用长度不小于22m时应符合表二中λCC规定，使用长度小于22m但不小于2m时应符合表二中λCj规定，使用长度小于2m时应符合表二中 λC规定，以防止传输时可能产生的模式噪声。
『贰』 ITU-T 建议中关于G652光纤的色散标准是多少
G.652的色散系数为17ps/nm/km，不适用于DWDM系统，PMD全称为：polarization mode dispersion ，偏振模色散。
对于SDH系统：一般是小于40km用652光纤，距离远于40km，就得用655光纤了！
G.652光纤：（色散未移位光纤）
应用最广泛的光纤，具有1310nm和1550nm两个窗口，1310nm处色散小但衰耗大，1550nm处衰耗小但色散大
一般的单模光纤中都同时存在两个沿正交方向的基本偏振态（Principal State of Polarization, PSP）。理想的光纤呈完美的圆形，材料和应力分布均匀，使得折射率具有圆对称的良好性质，在理想圆对称纤芯的单模光纤中，两个正交偏振模X方向的线偏振模和沿Y方向的线偏振模是完全简并的，两者的传播常数相等，故不存在偏振模色散。
『叁』 光纤通信系统的图书信息
书名:光纤通信系统
图书编号:1939810
出版社:科学出版社
定价:25.0
ISBN:703017293
作者:延凤平,裴丽,宁提纲
出版日期:2006-01-01
版次:1
开本:16开
简介:
本书系统深入地介绍了光纤通信的基本原理和方法，增加了许多新内容，如EDFA,FRA,OTDM等，全书共分十二章。
目录:
丛书序
前言
第1章 引言
1.1光通信的历史回顾
1.1.1光通信器件的发展
1.1.2光纤通信系统的演进
1.2准同步数字体系与同步数字体系
1.2.1复接与分插
1.2.2准同步数字体系
1.2.3同步数字体系
1.2.4lO.92Tbit/s系统
1.3数字光纤通信系统的组成
1.3.1光发射机
1.3.2传输光纤
1.3.3光接收机
1.4光纤通信系统的特点
习题
第2章 光纤
2.1Maxwell方程组及边界条件
2.2介质平板波导中的模式理论
2.2.1模式的一般概念
2.2.2激光在平板波导中的传输特性
2.3光纤的结构
2.3.1光纤的物理结构
2.3.2折射率分布
2.4光纤中的模式理论
2.4.1模式的一般描述
2.4.2阶跃型折射率分布光纤中的波导方程
2.4.3阶跃型折射率分布光纤中的模式
2.4.4线偏振模式理论
2.5单模光纤
2.5.1模场直径
2.5.2单模光纤中的传输模式
2.6新型特种光纤
2.6.1各种稀土掺杂光纤
2.6.2光子晶体光纤
2.6.3其他介质光纤
2.7光纤制造
2.7.1预制棒制作
2.7.2拉丝
2.7.3新型低损耗光纤制造技术
2.8光纤的机械性能
2.9光缆
习题
第3章 光纤的传输特性
3.1光纤的损耗
3.1.1损耗产生的机理
3.1.2光纤的损耗谱表述
3.2光纤的色散
3.2.1色散的一般描述
3.2.2群时延
3.2.3模式色散
3.2.4材料色散
3.2.5波导色散
3.2.6偏振模色散
3.2.7单模光纤中脉冲展宽的一般描述
3.2.8光纤色散管理与色散补偿
3.3光纤的非线性
3.3.1非线性的产生机理
3.3.2自相位调制
3.3.3交叉相位调制
3.3.4四波混频
3.3.5受激散射
习题
第4章 光源
4.1激光的特性及基本光学规律
4.1.1激光产生的基本条件
4.1I2激光的基本特征
4.1.3Snell定律
4.2半导体物理基础
4.2.1能带
4.2.2本征及掺杂材料
4.2.3载流子及PN结
4.3发光二极管
4。3。1发光二极管结构及工作机理
4.3.2伏安特性
4.3.3量子效率
4.3.4发光二极管的调制
4.4激光二极管
4.4.1激光二极管结构及工作机理
4.4.2伏安特性及阈值条件
4.4.3外量子效率
4.4.4谐振频率选择
4.4.5激光二极管结构
4.4.6温度效应
4.5半导体激光器
4.5.1窄线宽半导体激光器
4.5.2面发射激光器
4.6光纤激光器
4.6.1工作机理
4.6.2特点
4.6.3光纤激光器构成及其应用
习题
第5章 功率的注入与耦合
5.1芯片到光纤的功率注入
5.1.1光源输出模式
5.1.2功率耦合计算
5.2用于改善耦合的透镜结构
5.2.1球面结构
5.2.2激光二极管到光纤的耦合
5.3光纤到光纤的耦合
5.3.1机械失配
5.3.2光纤相对数值孔径失配
5.3.3光纤端面处理
5.4光纤接续
5.4.1接续技术
5.4.2单模光纤的接续
5.5光纤连接器
5.5.1连接器分类
5.5.2连接器的回波损耗与插入损耗
习题
第6章 光电探测器
6.1光电二极管的物理特性
6.1.1PD的工作机理
6.1.2PIN光电探测器
6.1.3雪崩光电探测器
6.2光电探测器噪声
6.2.1噪声源
6.2.2信噪比
6.3探测器响应时间
6.3.1耗尽层光电流特征
6.3.2响应时间
6.4雪崩增益的温度效应及倍增噪声
6.5光电探测器的比较
6.5.1光电池
6.5.2光电三极管
6.5.3光电二极管与光电三极管的主要差别
6.5.4光电倍增管
6.5.5电荷耦合阵列探测器
习题
第7章 光接收机
7.1光接收机的基本构成
7.1.1光接收机结构
7.1.2误差源
7.1.3数字信号传输系统构成
7.2前置放大器
7.3数字接收机特征
7.3.1误差概率
7.3.2量子极限
7.4数字接收机的灵敏度
7.4.1接收机噪声
7.4.2散粒噪声
7.4.3灵敏度计算
7.5模拟接收机
习题
第8章 光纤通信系统设计
8.1点对点链路的设计
8.1.1功率预算
8.1.2上升时间预算
8.1.3色散预算
8.1.4系统的功率代价
8.2信道编码及线路码型
8.2.1非归零码
8.2.2归零码
8.2.3啁瞅归零码
8.2.4载波抑制归零码
8.2.5扰码
8.2.6线路码型
8.3前向纠错技术
8.3.1FEC码的构成
8.3.2编码增益和净编码增益
8.3.3FEC误码纠错能力
8.3.4FEC的应用
8.3.5超强FEC
习题
第9章 光无源器件
9.1光调制器
9.1.1基本概念
9.1.2电介质光调制器
9.1.3EA调制器
9.2光复用解复用器
9.2.1波分复用/解复用器
9.2.2复用器/解复用器的串扰
9.2.3时分复用/解复用器
习题
第lO章 光放大器
10.1基本概念
10.1.1增益系数
10.1.2增益与带宽
10.1.3放大器噪声
10.2掺铒光纤放大器
10.2.1增益谱
10.2.2放大器增益
10.2.3放大器噪声
10.3调制不稳定性
10.3.1分布放大
10.3.2周期性集总放大
10.3.3噪声放大
10.4拉曼光纤放大器
10.4.1光纤拉曼放大器的工作原理
10.4.2光纤中的受激拉曼散射
10.4.3光纤拉曼放大器特点
10.4.4光纤拉曼放大器的分类
10.4.5增益特性
10.4.6光纤拉曼放大器噪声特性
10.4.7宽带增益平坦拉曼光放大器设计的一般方法
10.4.8多波长泵浦拉曼光放大器的设计
10.5半导体光放大器
10.5.1信号放大特性
10.5.2行波光放大器的噪声特性
10.5.3信道间的串扰
习题
第11章 光网络
11.1基本光网络
11.1.1网络拓扑结构
11.1.2无源线形总线网络的性能
11.1.3星形结构网络的性能
11.2SONET/SDH
11.2.1传输格式及速率
11.2.2光接口
11.2.3SONET/SDH环
11.2.4SONET/SDH网络
11.3波长路由网络
11.3.1光上下话路复用
11.3.2光交叉连接
11.3.3波长变换器的性能评价
11.4wDM+EDFA系统的性能
11.4.1链路带宽
11.4.2用于特殊误码率的光功率要求
11.4.3通道间串扰
11.5光码分多址OCDMA技术
11.6全光包交换技术
11.6.1光包交换的网络结构
11.6.2OPS的节点结构
11.6.3OPS在城域网中的应用
11.7光突发交换
11.7.1OBS网络结构
11.7.2OBS协议
11.7.3OBS的特点
习题
第12章 光纤测量
12.1衰减测量
12.1.1截断技术
12.1.2插入损耗方法
12.1.3背向散射法
12.2色散测量
12.2.1模间色散
12.2.2时域模间色散测量
12.2.3频域模间色散测量
12.2.4色度色散
12.2.5偏振模色散
12.3OTDR的应用
12.3.1衰减测量
12.3.2光纤故障位置判定
12.4眼图分析
12.5光谱分析仪的应用
12.5.1光源的性能评价
12.5.2EDFA增益及噪声图测试
习题
参考文献
『肆』 光纤光栅里的群时延公式在MATLAB中怎样表达啊
是不是有在变量没定义
『伍』 光纤的光学特性包含哪几项
光纤光学特性参数测试
(1)单模光纤模场直径的测试方法
模场直径是单模光纤基模（LP01）模场强度空间分布的一种度量，它取决于该光纤的特性。
模场直径（MFD）可在远场用远场光强分布Pm(θ)、互补孔径功率传输函数α(θ)和在近场用近场光强分布f2(r)来测定。模场直径定义与测量方法严格相关。
单模光纤模场直径的测试方法有三种。
●直接远场扫描法
直接远场扫描法是测量单模光纤模场直径的基准试验方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）远场定义，通过测量光纤远场辐射图计算出单模光纤的模场直径。
●远场可变孔径法
远场可变孔径法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光功率穿过不同尺寸孔径的两维远场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。
●近场扫描法
近场扫描法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光纤径向近场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。
一般商用仪表模场直径测试方法是远场变孔径法(VAFF)。
测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：
●准备2m（0.2m）的光纤样品，两端剥除被覆层，放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。
●将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端，检查光接收端的聚焦状态，如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。
●在光源的输出端保持测试光纤的注入条件不变，打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，进行模场直径的测试。
通过分析得到光纤模场直径的测试数据。
（2）单模光纤截止波长和成缆单模光纤截止波长的测试方法
测量单模光纤的截止波长和成缆单模光纤的截止波长的测试方法是传输功率法。
当光纤中的模大体上被均匀激励情况下，包括注入较高次模在内的总光功率与基模光功率之比随波长减小到规定值（0.1dB）时所对应的较大波长就是截止波长。传输功率法根据截止波长的定义，在一定条件下，把通过被测光纤（或光缆）的传输功率与参考传输功率随波长的变化相比较，得出光纤（或光缆）的截止波长值。
一般商用仪表模场直径测试方法是传输功率法。
测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：
①在样品制备时，单模光纤的截止波长的测试使用2m（0.2m）的光纤样品，成缆单模光纤的截止波长的测试使用22m的已成缆单模光纤。
②将测试光纤的两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。
③将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端, 检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在其屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。
④先在测试光纤不打小环的情况下，测试参考传输功率。
⑤再将测试光纤在注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。
⑥将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤（或光缆）的截止波长值。
光纤传输特性参数测试
(1)衰减的测试方法
衰减是光纤中光功率减少量的一种度量，它取决于光纤的性质和长度，并受测量条件的影响。衰减的主要测试方法如下：
●截断法
截断法是测量光纤衰减特性的基准试验方法（RTM），在不改变注入条件时测出通过光纤两横截面的光功率，从而直接得到光纤衰减。
●插入损耗法
插入损耗法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），原理上类似于截断法，但光纤注入端的光功率是注入系统输出端的出射光功率。测得的光纤衰减中包含了试验装置的衰减，必须分别用附加连接器损耗和参考光纤段损耗对测量结果加以修正。
●后向散射法
后向散射法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），它测量从光纤中不同点后向散射至该光纤始端的后向散射光功率。这是一种单端测量方法。
一般商用仪表衰减的测试方法是截断法和后向散射法。
截断法测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：
①准备不短于1km或更长一些（一般一个光纤盘长：25km）的光纤样品，两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。
②将测试光纤盘的外端光纤通过专用夹具连接仪表的发射端，将测试光纤盘的内端光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。
③在光纤注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。
④保持光源的注入状态不变（在光纤注入端打一个半径30mm的小环），将测试光纤样品截断为2m的试样，光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。测试此时的传输功率。
将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤在1310nm和1550nm波段的衰减谱特性。
后向散射法测试中使用的仪表是光时域反射计。测试步骤如下：
①将测试光纤盘的外端通过熔接光纤连接器或裸纤适配器，接入光时域反射计进行测试。
②测试中光时域反射计使用最小二乘法（LSA）计算光纤的衰减，此方法可忽略光纤中可能的熔接或接头损耗对光纤链路测试造成的影响。
③如需分段测试光纤链路的衰减可使用两点法进行测试。
④光纤衰减测试中，应选择光纤测试曲线中的线性区域，避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域，测试两点间的光纤衰减（dB/km）。
⑤更改光时域反射计的测试波长，分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析。
实际测试中，可以通过截断法和后向散射法两种测试方法验证光纤衰减的测试数据。对于带有光纤连接器的测试光纤样品，为了不破坏已安装的光纤连接器，则只能使用后向散射法进行单端非破坏性测试。
波长色散的测试方法
波长色散是由组成光源谱的不同波长的光波以不同群速度传输引起的光纤中每单位光源谱宽的光脉冲展宽，用ps/nm表示。它取决于该光纤的特性和长度。波长色散的主要测试方法如下：
●相移法
相移法是测量光纤波长色散的基准试验方法（RTM）。它在频域中通过检测、记录和处理不同波长正弦调制信号的相移来测量不同波长信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。
●脉冲时延法
脉冲时延法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在时域中通过直接检测、记录和处理不同波长脉冲信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。
●微分相移法
微分相移法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波长范围内由两个相近波长间的微分群时延来测量特定波长上的波长色散系数。
一般商用仪表波长色散的测试方法是相移法。
测试中使用的设备是色散测量仪。测试步骤如下：
①测试光纤样品应不短于1km。光纤两端做好光纤连接器。
②在色散测试时应先用两根标准光纤跳线分别连接色散测量仪的输入端和输出端，通过法兰盘连接两根光纤跳线的另一端，将色散测量仪自环，测试此时的参考值。
③再将测试光纤通过法兰盘接入光纤环路。
④根据测试光纤样品，设定光纤类型；数据拟合方式；光纤测试中的群折射率；测试光纤长度；；测试波长范围；波长间隔等。
⑤测试光纤的零色散波长、零色散斜率和色散系数等。通过对测试数据的分析处理得到光纤的色散特性。
光纤参数测试中的不确定度评定方法：光纤参数测试中的不确定度评定一般参考下面提到的方法进行。主要考虑测量仪器引入的不确定度和测量重复性两方面因素。
光纤参数测试中普遍存在的问题
以单模光纤B1.1类（即非色散位移单模光纤）、B1.3类（即波长段扩展的非色散位移单模光纤）和B4类（即非零色散位移单模光纤）为例说明光纤参数测试中普遍存在的问题。光纤参数测试中普遍存在的问题是单模光纤的截止波长指标超标的问题。
根据国内光纤光缆标准，截止波长可分为光缆截止波长λCC、光纤截止波长λC和跳线光缆截止波长λCj，光纤光缆的截止波长指标应符合表二中的相应规定。光缆使用长度不小于22m时应符合表二中λCC规定，使用长度小于22m但不小于2m时应符合表二中λCj规定，使用长度小于2m时应符合表二中λC规定，以防止传输时可能产生的模式噪声。
在对国内光纤光缆厂商光缆产品的委托测试中，在四种规格的光缆产品中以192芯（其中B1类光纤178芯，B4类光纤14芯）为抽样基数，随机抽取B1类光纤样品12根，B4类光纤样品4根，测试单模光纤的截止波长参数。测试结果中单模光纤的截止波长普遍存在超标现象。
在对国内光纤光缆厂商光缆产品的委托测试中，在四种规格的光缆产品中以192芯（其中B1类光纤178芯，B4类光纤14芯）为抽样基数，随机抽取B1类光纤样品12根，B4类光纤样品4根，测试单模光纤的截止波长参数。测试结果中单模光纤的截止波长普遍存在超标现象。
『陆』 如何用时域特性法来描述光纤的色散效应
对光纤参数的测试方法参照国标中相关的试验方法进行，下面列举出一些光纤基本参数的测试方法。光纤的特性参数中，几何特性参数对光纤的包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法做出相关说明；光学特性参数对模场直径、单模光纤的截止波长、成缆单模光纤的截止波长的测试方法做出相关说明；传输特性参数对光纤的衰减、波长色散的测试方法做出相关说明。2.1、光纤几何特性参数测试光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法。测量包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法是折射近场法、横向干涉法和近场光分布法（横截面几何尺寸测定）。光纤的折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试方法有三种。●折射近场法折射近场法是多模光纤和单模光纤折射率分布测定的基准试验方法（RTM），也是多模光纤尺寸参数测定的基准试验方法和单模光纤尺寸参数测定的替代试验方法（ATM）。折射近场测量是一种直接和精确的测量。它能直接测量光纤（纤芯和包层）横截面折射率变化，具有高分辨率，经定标可给出折射率绝对值。由折射率剖面图可确定多模光纤和单模光纤的几何参数及多模光纤的最大理论数值孔径。●横向干涉法横向干涉法是折射率剖面和尺寸参数测定的替代试验方法（ATM）。横向干涉法采用干涉显微镜，在垂直于光纤试样轴线方向上照明试样，产生干涉条纹，通过视频检测和计算机处理获取折射率剖面。●近场光分布法这种方法是多模光纤几何尺寸测定的替代试验方法（ATM）和单模光纤几何尺寸（除模场直径）测定的基准试验方法（RTM）。通过对被测光纤输出端面上近场光分布进行分析，确定光纤横截面几何尺寸参数。可以采用灰度法和近场扫描法。灰度法用视频系统实现两维（x-y）近场扫描，近场扫描法只进行一维近场扫描。由于纤芯不圆度的影响，近场扫描法与灰度法得出的纤芯直径可能有差别。纤芯不圆度可以通过多轴扫描来确定。一般商用仪表折射率分布的测试方法是折射近场法。测试中使用的仪表是光纤几何参数和折射率分布测量仪。测试步骤如下：①试样制备时应注意试样端面清洁、光滑并垂直于光纤轴。②测量包层时，端面倾斜角应小于1°。控制端面损伤，使其对测量精度的影响最小。③注意避免光纤的小弯曲。④将被测光纤剥除被覆层，用专用光纤切割刀切割出平整的端面, 放入光纤样品盒中，样品盒中注入折射率稍高于光纤包层折射率的折射率匹配液。⑤将光纤样品盒垂直放在光纤折射率分布测量仪的光源和光探测器之间，进行x-y方向的扫描测试。⑥通过分析得到光纤折射率分布、包层直径、包层不圆度、芯/包层同心度误差的测试数据。2.2、光纤光学特性参数测试(1)单模光纤模场直径的测试方法模场直径是单模光纤基模（LP01）模场强度空间分布的一种度量，它取决于该光纤的特性。模场直径（MFD）可在远场用远场光强分布Pm(θ)、互补孔径功率传输函数α(θ)和在近场用近场光强分布f2(r)来测定。模场直径定义与测量方法严格相关。单模光纤模场直径的测试方法有三种。●直接远场扫描法直接远场扫描法是测量单模光纤模场直径的基准试验方法（RTM）。它直接按照柏特曼（Petermann）远场定义，通过测量光纤远场辐射图计算出单模光纤的模场直径。●远场可变孔径法远场可变孔径法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光功率穿过不同尺寸孔径的两维远场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。●近场扫描法近场扫描法是测量单模光纤模场直径的替代试验方法（ATM）。它通过测量光纤径向近场图计算出单模光纤的模场直径，计算模场直径的数学基础是柏特曼远场定义。一般商用仪表模场直径测试方法是远场变孔径法(VAFF)。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：●准备2m（±0.2m）的光纤样品，两端剥除被覆层，放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。●将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端，检查光接收端的聚焦状态，如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。●在光源的输出端保持测试光纤的注入条件不变，打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，进行模场直径的测试。通过分析得到光纤模场直径的测试数据。（2）单模光纤截止波长和成缆单模光纤截止波长的测试方法测量单模光纤的截止波长和成缆单模光纤的截止波长的测试方法是传输功率法。当光纤中的模大体上被均匀激励情况下，包括注入较高次模在内的总光功率与基模光功率之比随波长减小到规定值（0.1dB）时所对应的较大波长就是截止波长。传输功率法根据截止波长的定义，在一定条件下，把通过被测光纤（或光缆）的传输功率与参考传输功率随波长的变化相比较，得出光纤（或光缆）的截止波长值。一般商用仪表模场直径测试方法是传输功率法。测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：①在样品制备时，单模光纤的截止波长的测试使用2m（±0.2m）的光纤样品，成缆单模光纤的截止波长的测试使用22m的已成缆单模光纤。②将测试光纤的两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。③将被测光纤连接入测量仪的输入和输出端, 检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在其屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。④先在测试光纤不打小环的情况下，测试参考传输功率。⑤再将测试光纤在注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。⑥将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤（或光缆）的截止波长值。2.3、光纤传输特性参数测试(1)衰减的测试方法衰减是光纤中光功率减少量的一种度量，它取决于光纤的性质和长度，并受测量条件的影响。衰减的主要测试方法如下：●截断法截断法是测量光纤衰减特性的基准试验方法（RTM），在不改变注入条件时测出通过光纤两横截面的光功率，从而直接得到光纤衰减。●插入损耗法插入损耗法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），原理上类似于截断法，但光纤注入端的光功率是注入系统输出端的出射光功率。测得的光纤衰减中包含了试验装置的衰减，必须分别用附加连接器损耗和参考光纤段损耗对测量结果加以修正。●后向散射法后向散射法是测量光纤衰减特性的替代试验方法（ATM），它测量从光纤中不同点后向散射至该光纤始端的后向散射光功率。这是一种单端测量方法。一般商用仪表衰减的测试方法是截断法和后向散射法。截断法测试中使用的仪表是光纤模场直径和衰减谱测量仪。测试步骤如下：①准备不短于1km或更长一些（一般一个光纤盘长：25km）的光纤样品，两端剥除被覆层, 放在光纤夹具中，用专用光纤切割刀切割出平整的端面。②将测试光纤盘的外端光纤通过专用夹具连接仪表的发射端，将测试光纤盘的内端光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰, 则需要进行位置和焦距的调整。③在光纤注入端打一个半径30mm的小环，滤除LP11模的影响，测试此时的传输功率。④保持光源的注入状态不变（在光纤注入端打一个半径30mm的小环），将测试光纤样品截断为2m的试样，光纤通过专用夹具连接仪表的接收端，检查光接收端的聚焦状态, 如果曲线不在屏幕的正中央或光纤端面不够清晰，则需要进行位置和焦距的调整。测试此时的传输功率。将两条传输功率测试曲线相比较，通过数据分析处理，得到光纤在1310nm和1550nm波段的衰减谱特性。后向散射法测试中使用的仪表是光时域反射计。测试步骤如下：①将测试光纤盘的外端通过熔接光纤连接器或裸纤适配器，接入光时域反射计进行测试。②测试中光时域反射计使用最小二乘法（LSA）计算光纤的衰减，此方法可忽略光纤中可能的熔接或接头损耗对光纤链路测试造成的影响。③如需分段测试光纤链路的衰减可使用两点法进行测试。④光纤衰减测试中，应选择光纤测试曲线中的线性区域，避开测试曲线近端的饱和区域和末端的反射区域，测试两点间的光纤衰减（dB/km）。⑤更改光时域反射计的测试波长，分别对1310nm和1550nm波长处的光纤衰减特性进行测试分析。实际测试中，可以通过截断法和后向散射法两种测试方法验证光纤衰减的测试数据。对于带有光纤连接器的测试光纤样品，为了不破坏已安装的光纤连接器，则只能使用后向散射法进行单端非破坏性测试。（2）波长色散的测试方法波长色散是由组成光源谱的不同波长的光波以不同群速度传输引起的光纤中每单位光源谱宽的光脉冲展宽，用ps/nm表示。它取决于该光纤的特性和长度。波长色散的主要测试方法如下：●相移法相移法是测量光纤波长色散的基准试验方法（RTM）。它在频域中通过检测、记录和处理不同波长正弦调制信号的相移来测量不同波长信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。●脉冲时延法脉冲时延法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在时域中通过直接检测、记录和处理不同波长脉冲信号的群时延，从而推导出光纤波长色散。●微分相移法微分相移法是测量光纤波长色散的替代试验方法（ATM）。它在1000nm~1700nm波长范围内由两个相近波长间的微分群时延来测量特定波长上的波长色散系数。一般商用仪表波长色散的测试方法是相移法。测试中使用的设备是色散测量仪。测试步骤如下：①测试光纤样品应不短于1km。光纤两端做好光纤连接器。②在色散测试时应先用两根标准光纤跳线分别连接色散测量仪的输入端和输出端，通过法兰盘连接两根光纤跳线的另一端，将色散测量仪自环，测试此时的参考值。③再将测试光纤通过法兰盘接入光纤环路。④根据测试光纤样品，设定光纤类型；数据拟合方式；光纤测试中的群折射率；测试光纤长度；；测试波长范围；波长间隔等。⑤测试光纤的零色散波长、零色散斜率和色散系数等。通过对测试数据的分析处理得到光纤的色散特性。光纤参数测试中的不确定度评定方法：光纤参数测试中的不确定度评定一般参考下面提到的方法进行。主要考虑测量仪器引入的不确定度和测量重复性两方面因素。3、光纤参数测试中普遍存在的问题以单模光纤B1.1类（即非色散位移单模光纤）、B1.3类（即波长段扩展的非色散位移单模光纤）和B4类（即非零色散位移单模光纤）为例说明光纤参数测试中普遍存在的问题。光纤参数测试中普遍存在的问题是单模光纤的截止波长指标超标的问题。
根据国内光纤光缆标准，截止波长可分为光缆截止波长λCC、光纤截止波长λC和跳线光缆截止波长λCj，光纤光缆的截止波长指标应符合表二中的相应规定。光缆使用长度不小于22m时应符合表二中λCC规定，使用长度小于22m但不小于2m时应符合表二中λCj规定，使用长度小于2m时应符合表二中 λC规定，以防止传输时可能产生的模式噪声。
『柒』 载噪比在光通讯中的意义
载噪比的定义载波功率和噪声功率之比: =20lg
两者都是越大约好，越大效果就越好！！！
对光传输系统的探讨
用光波传输电视信号和数据信息是20世纪末发展起来的一门新的科学技术，它的出现使世界信息产业得到了飞速发展，现在光纤传输技术正以超出人们想像的速度发展，其光传输速度比10年前提高了100倍，在今后的发展中估计还要提高100倍左右。随着光纤传输技术的不断发展，在光域上可进行复用、解复用、选路、交换，网络可利用光纤的巨大带宽资源，增加网络的容量，实现多种业务的“透明”传输。
光传输系统主要由光发射机、光接收机、光分路器和光纤电缆及其它器件组成。
一 光纤传输光信号的基理
光传输是在发送方和接收方之间以光信号形态进行传输的技术。光传输电视信号的工作过程是在光发射机、光纤和光接收机三者之间进行的; 在中心机房的光发射机把输入的RF电视信号变换成光信号，它由电/光变换器(Electric-Optical Transcer，E/O)完成，变换成的光信号由光纤传输导向接收设备(光接收机)接收，光接收机把从光纤中获取的光信号变换还原成电信号。因此光传输信号的基理就是电/光和光/电变换的全过程，也称为光链路。
目前光传输方式采用光强度调制。如采用激光器的光发器件发出相位一致的所谓相干光，因此采取了使发光强度整体发生变化的调制方式，它利用了输出光功率对应于电/光变换器输入信号电流的变化而线性变化的特性。
在光/电变换器(Optical-Electric Transcer，O/E)中，输出正比于输入光信号强度的电流，光/电变换器的输出电流波形因而与电/光变换器输入电流波形相似，达到了信号传输的目的。
那么，光纤又是如何导向光信号的呢？目前有线电视系统使用的光纤是圆柱体的光纤，它由光纤圆柱体和包层组成，是石英玻璃材料。包层起着把光严密地封闭在光纤内的作用，保护纤芯，增强光纤本身的强度。而纤芯的作用是传输光信号。纤芯和包层虽然都是石英玻璃材料生产而成，但在生产时对两者的掺杂成份有区别，因而导致了所产生的折射率大小不同(纤芯为1.463~ 1.467，包层为1.45~1.46)，当然也与所采用的材料不同有关。当激光器发射的光源进入纤芯后，光入射到包层界面时，只要入射角大于临界角，就会在纤芯内产生全反射，光不会漏射到包层中，这样聚入到纤芯内的光信号就会不间断地传播下去，直到导向光接收机为止。这个过程就是光信号在光纤中传输的基理。
二 光传输中产生的失真
光在光纤中传输时，也会产生一些失真，产生失真的原因有以下几点:
(1)在光纤传输系统中，由于半导体激光器的电/光转换特性的非线性，使输出的光信号与激励电流的变化不一致导致了失真，它称为调制失真。调制指数M值不允许太大，选择高性能、预失真处理技术强的光发射机很有必要，预失真处理技术是利用人为的设计产生预失真改善调制线性，达到消除和减轻光纤传输系统中CSO与CTB的目的。
(2)在光传输系统中，由于驱动RF放大器和接收RF放大器产生失真的机会很小，线性PIN光电二极管因信号电平不太高，产生的微小失真可不计，而它的主要原因来自于半导体激光器调制特性的失真和光纤的色散。
(3)激光器在光强度调制时，光的波长会发生变化，出现附加频率调制，使信号频率展宽，出现啁啾效应 ，主要表现为CSO失真。
(4)光纤的色散特性会使不同波长的群时延发生差异，形成到达终端的时间会先后不一致所引起的失真，主要是CSO失真。
在光纤传输系统中产生的失真主要是CSO失真，而CTB失真的程度远比CSO失真小，为了确保系统的传输质量，使系统载噪比和失真性能处于合理的范围之内，采取的措施一般利用CNR指标来平衡CSO、CTB指标。如果增加或者减小CNR值1dB，那么CSO就会恶化或者改善1dB，CTB指标就会恶化或者改善2dB。
三 光发射机的工作原理
光发射机中最重要的光器件就是半导体激光器，实际上它是一只激光二极管(Laser Diode，LD)，当然也有不使用激光二极管，而是使用半导体发光二级管(Light Emitting Diode，LED)的。
1310nm光发射机一般采用直接调制方式(残留边带—幅度调制，VSB-AM方式)，它的功能是把电信号转换成光信号，它通过外部电路改变注入激光器的电源来实现。它设置的偏置电路能为激光器提供最佳偏置工作电源，偏置电流不同，激光器就会有不同的功率输出，为确保稳定的输出光功率，应设计光功率和激光器温度的自动控制电路，如采用微电脑达到自动控制光发射机的最佳工作状态。
激光器正在广泛地用作光振荡器(即发光器件)，它是依靠本身所成的激光器媒质材料的能量状态与光的相互作用工作。
为使激光器工作，必须有一定大小的电流，这一电流的大小与光强度之间有一定关系，当增加电流时，光的强度急剧增加，这一点说明激光器已开始工作，这个使激光器开始工作的电流叫门限电流，它越小越好，因为这已经能使激光器开始工作，如再继续增加门限电流，就会形成输出的饱和区，饱和区的电流达到一定值后，就会使传输信号的质量下降甚至损坏激光二极管，对于光纤传输所需功率来讲，在线性区域有数兆瓦的输出功率满足远距离传输信号和信息的要求。光的传输质量除光强的量以外，还与光谱和噪声等问题有一定关系。
多波长的光谱对高质量的模拟信号的传输是不太适合的，即使以单模方式来工作，它的发光谱线也有宽度，宽度越窄，光波变得越纯，越会成为时间相干，即相干性好的光波。相干性好的光波不需用透镜和其它器件将它会聚成小的光点，也越适合光纤的入射。
四 光接收机的工作原理
光接收机的主要部件是光检测器，也就是高灵敏度的光电二极管(PIN)，光电二极管利用半导体的光电效应完成对光信号的检测工作，使光信号还原成RF电视信号，然后对RF信号进行放大，以及AGC电平控制等处理后输出合格的RF信号供网络分配。
光接收机的主要技术是C/N、C/CTB、C/CSO。这三大技术指标又都是由光电转换模块的性能所确定，在相同光功率输入的情况下，转换输出的RF电平就有大小之分，当光电模块转换效率高时，它的输出电平高，所带来的C/N值指标也好，反之，C/N值指标变差。而C/CSO、C/CTB两项技术指标由光电模块的线性度而定，高质量的光电模块在C/CSO、C/CTB指标相同的情况下，允许更宽的接收功率范围。
五 光器件的发展前景
随着宽带网的光纤传输技术不断更新，多功能业务的不断完善，对光器件和光纤的传输特性的要求越来越高，光纤取代铜线的时代终究要来临，随着信息时代脚步声的来临，光传输技术的发展前景非常广阔。
『捌』 光纤光栅的主要分类
随着光纤光栅应用范围的日益扩大，光纤光栅的种类也日趋增多。根据折射率沿光栅轴向分布的形式，可将紫外写入的光纤光栅分为均匀光纤光栅和非均匀光纤光栅。其中均匀光纤光栅是指纤芯折射率变化幅度和折射率变化的周期(也称光纤光栅的周期)均沿光纤轴向保持不变的光纤光栅，如均匀光纤Bragg光栅(折射率变化的周期一般为0.1um量级)和均匀长周期光纤光栅(折射率变化的周期一般为100um量级);非均匀光纤光栅是指纤芯折射率变化幅度或折射率变化的周期沿光纤轴向变化的光纤光栅，如chirped光纤光栅(其周期一般与光纤Bragg光栅周期处同一量级)、切趾光纤光栅、相移光纤光栅和取样光纤光栅等。
均匀光纤光栅
均匀光纤Bragg光栅折射率变化的周期一般为0.1um量级。它可将入射光中某一确定波长的光反射，反射带宽窄。在传感器领域，均匀光纤Bragg光栅可用于制作温度传感器、应变传感器等传感器;在光通信领域，均匀光纤Bragg光栅可用于制作带通滤波器、分插复用器和波分复用器的解复用器等器件。
均匀长周期光纤光栅
均匀长周期光纤光栅折射率变化的周期一般为100um量级，它能将一定波长范围内入射光前向传播芯内导模耦合到包层模并损耗掉。在传感器领域，长周期光纤光栅可用于制作微弯传感器、折射率传感器等传感器;在光通信领域，长周期光纤光栅可用于制作掺饵光纤放大器、增益平坦器、模式转换器、带阻滤波器等器件。
切趾光纤光栅
对于一定长度的均匀光纤Bragg光栅，其反射谱中主峰的两侧伴随有一系列的侧峰，一般称这些侧峰为光栅的边模。如将光栅应用于一些对边模的抑制比要求较高的器件如密集波分复用器，这些侧峰的存在是一个不良的因素，它严重影响器件的信道隔离度。为减小光栅边模，人们提出了一种行之有效的办法一切趾所谓切趾，就是用一些特定的函数对光纤光栅的折射率调制幅度进行调制。经切趾后的光纤光栅称为切趾光纤光栅，它反射谱中的边模明显降低。
相移光纤光栅
相移光纤光栅是由多段m（M>2)具有不同长度的均匀光纤Bragg光栅以及连接这些光栅的M-1个连接区域组成.相移光纤光栅因为在其反射谱中存在一透射窗口可直接用作带通滤波器。
取样光纤光栅
取样光纤光栅也称超结构光纤光栅，它是由多段具有相同参数的光纤光栅以相同的间距级联成。除了用作梳状滤波器之外，取样光纤光栅还可用wdm系统中的分插复用器件。与其他分插复用器件不同的是，取样光纤光栅构成的分插器件
可同时分或插多路信道间隔相同的信号。
chirped光纤光栅
所谓chirped光纤光栅，是指光纤的纤芯折射率变化幅度或折射率变化的周期沿光纤轴向逐渐变大(小)形成的一种光纤光栅。在chirped光纤光栅轴向不同位置可反射不同波长的入射光。所以chirped光纤光栅的特点是反射谱宽，在反射带宽内具有渐变的群时延，群时延曲线的斜率即光纤光栅的色散值。所以，可以利用chirped光纤光栅作为色散补偿器。
『玖』 DGD是什么
DGD即两个偏振模之间的差分群时延。光纤中的DGD定义为特定波长下，快、慢偏振主态（PSP）之间的相位延迟，单位为ps。
『拾』 谁能给我解释一下奔腾 M系列 中的DOTHON指什么，怎么解释PMD，谢谢了，我急用
一种核心的名字，名字而已，具体来说：
Pentium M(Dothon) 这是Intel研发的新核心的Pentium M处理器，和Banias的主版要区别在于CPU内置的二级缓存（权L2 Cache），Banias的缓存为1M，而Dothon的缓存达到了2M，由此可见，Dothon的性能要高于Banias，而在提升性能与节省功耗的方面Dothon也要优于Banias。
Pentium M(Dothon) 533Mhz 与 Intel 915芯片组、Intel无线网卡模块，组成了第二代迅驰，也就是SONOMA平台。